测高扫描仪是一种真实存在的设备,主要用于测量物体的高度、地形、建筑物等的高度信息。它广泛应用于测绘、地质勘探、城市规划、军事等领域。
测高扫描仪可以采用不同的技术,如激光雷达(LiDAR)、合成孔径雷达(SAR)等。激光雷达测高扫描仪通过发射激光脉冲,测量激光脉冲从发射到返回的时间,从而计算出目标物体的高度。合成孔径雷达则通过发射和接收雷达波,利用雷达波的反射特性来测量目标物体的高度。
因此,测高扫描仪是真实存在的,并且已经在多个领域得到了广泛应用。
测高扫描仪是一种真实存在的设备,主要用于测量物体的高度、地形、建筑物等的高度信息。它广泛应用于测绘、地质勘探、城市规划、军事等领域。
测高扫描仪可以采用不同的技术,如激光雷达(LiDAR)、合成孔径雷达(SAR)等。激光雷达测高扫描仪通过发射激光脉冲,测量激光脉冲从发射到返回的时间,从而计算出目标物体的高度。合成孔径雷达则通过发射和接收雷达波,利用雷达波的反射特性来测量目标物体的高度。
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